国家知识产权局信息显示，杭州芯云海半导体有限公司申请一项名为“一种半导体老化测试方法及系统”的专利，公开号CN122017513A，申请日期为2026年3月。
专利摘要显示，本申请涉及半导体测试技术领域，公开了一种半导体元件老化测试方法及系统，方法应用于包含老化测试板、测试工位、自动上下料机构的老化测试系统。该方法包括：将装载有待测元件的老化测试板完成上料与测试工位对接，启动老化测试流程并实时采集待测元件的测试参数；对测试参数执行多层级交叉验证，输出包含个体失效判定、板级故障判定的分级结果；根据分级结果执行分级控制，个体失效时同步执行电源切断与物理隔离动作，板级故障时触发故障板自动更换；测试完成后执行成品下料与新板上料。本申请提升了老化测试的判定精度与运行安全性，实现测试流程自动化连续运行，有效提升测试效率。
天眼查资料显示，杭州芯云海半导体有限公司，成立于2022年，位于杭州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本72618.2966万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州芯云海半导体有限公司参与招投标项目17次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息14条，此外企业还拥有行政许可19个。
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来源：市场资讯
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